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402-0545-00L 6 Credits DS D-MATH , D-PHYS
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Scanning Probe Techniques

Rastersensor-Methoden

Lecturers & Examiners: PD Hans von Känel
VVZ CR n/a

Last Updated: 2026-02-05 15:06:26

Content

Die Vorlesung behandelt die theoretischen Grundlagen der Rastertunnel-Mikroskopie und -Spektroskopie und ihre Anwendung auf halbleitende und metallische Oberflächen. Der Zusammenhang zwischen den atomaren Kräften und dem Tunneleffekt wird erläutert und das Atomkraft-Mikroskop besprochen. Eine Erweiterung des Rastertunnel-Mikroskops zur Untersuchung von vergrabenen Grenzflächen wird anhand der ballistischen-Elektronen-Emissions-Mikroskopie demonstriert.

General Information

Language
German
Levels
DS
Frequency
Yearly recurring

Examination

Type
session examination
Mode
oral 30 minutes

Course Components

Type Title Time & Place Hours
lecture Rastersensor-Methoden
  • Fri 08:45-10:30 (HPP G 2)
2 h weekly
exercise Rastersensor-Methoden No time listed 1 h weekly

Offered In