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151-0612-00L 3 Credits

Measuring on the Nanometer Scale

Messen im Nanobereich

Lecturers & Examiners: Prof. em. Dr. Andreas Stemmer
VVZ CR n/a

Last Updated: 2026-02-05 15:02:50

Abstract

Conventional methods for studying nanostructures with light and electron beams. Interferometry and non-optical techniques to measure distances. Optical traps (tweezers). Foundations and techniques of scanning probe microscopy: tunneling, atomic force, optical near-field. Interactions between probe and specimen in the nanometer range.

Objective

Einführung in Theorie und Anwendung aktueller Methoden zur Erschliessung des Nanobereichs. Vorbereitung auf Praktikum "Methoden in der Nanotechnik" (151-0614-00L).

Content

Konventionelle Methoden zur Untersuchung von Nanostrukturen mit Licht- und Elektronenstrahlen. Interferometrische und nicht-optische Techniken zur Distanzmessung. Optical Traps (Tweezers). Grundlagen und Verfahren der Rastersondenmikroskopie: Tunneling, Atomic Force, Optical Near-Field. Wechselwirkungen zwischen Messonden und Objekten im Nanobereich.

Resources

Lecture Notes

Handouts in English

General Information

Language
German
Frequency
Yearly recurring

Examination

Type
end-of-semester examination

Course Components

Type Title Time & Place Hours
lecture with exercise Messen im Nanobereich
  • Thu 09:15-10:00 (ML F 40)
  • Thu 10:15-12:00 (ML F 38)
3 h weekly

Offered In